Electron-beam-induced current study of electrically active defects in 4H-SiC
ISSN: 0953-8984
Año de publicación: 2004
Volumen: 16
Número: 2
Tipo: Aportación congreso
ISSN: 0953-8984
Año de publicación: 2004
Volumen: 16
Número: 2
Tipo: Aportación congreso