Atomic scale mapping of phase segregation at CMR grain boundaries in the scanning transmission electron microscope

  1. Varela, M.
  2. Peña, V.
  3. Sefrioui, Z.
  4. Lupini, A.R.
  5. Santamaria, J.
  6. Pennycook, S.J.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Any de publicació: 2004

Volum: 10

Número: SUPPL. 2

Pàgines: 330-331

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1017/S1431927604884381 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus