Atomic scale mapping of phase segregation at CMR grain boundaries in the scanning transmission electron microscope

  1. Varela, M.
  2. Peña, V.
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  6. Pennycook, S.J.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Ano de publicación: 2004

Volume: 10

Número: SUPPL. 2

Páxinas: 330-331

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1017/S1431927604884381 GOOGLE SCHOLAR
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