Atomic scale mapping of phase segregation at CMR grain boundaries in the scanning transmission electron microscope

  1. Varela, M.
  2. Peña, V.
  3. Sefrioui, Z.
  4. Lupini, A.R.
  5. Santamaria, J.
  6. Pennycook, S.J.
Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Datum der Publikation: 2004

Ausgabe: 10

Nummer: SUPPL. 2

Seiten: 330-331

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1017/S1431927604884381 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus