Probing nanostructures site by site with the aberration-corrected STEM

  1. Pennycook, S.J.
  2. Lupini, A.R.
  3. Varela, M.
  4. Borisevich, A.
  5. Peng, Y.
  6. Buczko, R.
  7. Fan, X.
  8. McBride, J.R.
  9. Kippeny, T.C.
  10. Rosenthal, S.J.
  11. Franceschetti, A.
  12. Pantelides, S.T.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Any de publicació: 2003

Volum: 9

Número: SUPPL. 2

Pàgines: 2-3

Tipus: Aportació congrés