Probing nanostructures site by site with the aberration-corrected STEM

  1. Pennycook, S.J.
  2. Lupini, A.R.
  3. Varela, M.
  4. Borisevich, A.
  5. Peng, Y.
  6. Buczko, R.
  7. Fan, X.
  8. McBride, J.R.
  9. Kippeny, T.C.
  10. Rosenthal, S.J.
  11. Franceschetti, A.
  12. Pantelides, S.T.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Ano de publicación: 2003

Volume: 9

Número: SUPPL. 2

Páxinas: 2-3

Tipo: Achega congreso