Probing nanostructures site by site with the aberration-corrected STEM

  1. Pennycook, S.J.
  2. Lupini, A.R.
  3. Varela, M.
  4. Borisevich, A.
  5. Peng, Y.
  6. Buczko, R.
  7. Fan, X.
  8. McBride, J.R.
  9. Kippeny, T.C.
  10. Rosenthal, S.J.
  11. Franceschetti, A.
  12. Pantelides, S.T.
Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Datum der Publikation: 2003

Ausgabe: 9

Nummer: SUPPL. 2

Seiten: 2-3

Art: Konferenz-Beitrag