Accuracy of the thin metallic wires diameter using Fraunhofer diffraction technique
- Serroukh, I.
- Martínez-Antón, J.C.
- Bernabeu, E.
ISSN: 0277-786X
Año de publicación: 2000
Volumen: 4099
Número: 1
Páginas: 255-266
Tipo: Artículo
ISSN: 0277-786X
Año de publicación: 2000
Volumen: 4099
Número: 1
Páginas: 255-266
Tipo: Artículo