Accuracy of the thin metallic wires diameter using Fraunhofer diffraction technique

  1. Serroukh, I.
  2. Martínez-Antón, J.C.
  3. Bernabeu, E.
Revista:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Año de publicación: 2000

Volumen: 4099

Número: 1

Páginas: 255-266

Tipo: Artículo

DOI: 10.1117/12.405827 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus