Robust Inference for One-Shot Device Testing Data under Weibull Lifetime Model

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
  3. Martin, N.
  4. Pardo, L.
Revista:
IEEE Transactions on Reliability

ISSN: 1558-1721,  0018-9529

Año de publicación: 2020

Volumen: 69

Número: 3

Páginas: 937-953

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TR.2019.2954385 GOOGLE SCHOLAR
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