Robust Estimators and Test Statistics for One-Shot Device Testing under the Exponential Distribution

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
  3. Martin, N.
  4. Pardo, L.
Revista:
IEEE Transactions on Information Theory

ISSN: 1557-9654,  0018-9448

Año de publicación: 2019

Volumen: 65

Número: 5

Páginas: 3080-3096

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TIT.2019.2903244 GOOGLE SCHOLAR
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