Optimal designs of constant-stress accelerated life-tests for one-shot devices with model misspecification analysis

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
  3. Ling, M.H.
Revista:
Quality and Reliability Engineering International

ISSN: 1099-1638,  0748-8017

Any de publicació: 2022

Volum: 38

Número: 2

Pàgines: 989-1012

Tipus: Article

DOI: 10.1002/QRE.3031 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor
Font de les dades: Scopus