Optimal designs of constant-stress accelerated life-tests for one-shot devices with model misspecification analysis

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
  3. Ling, M.H.
Zeitschrift:
Quality and Reliability Engineering International

ISSN: 1099-1638,  0748-8017

Datum der Publikation: 2022

Ausgabe: 38

Nummer: 2

Seiten: 989-1012

Art: Artikel

DOI: 10.1002/QRE.3031 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
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