EM-based likelihood inference for one-shot device test data under log-normal lifetimes and the optimal design of a CSALT plan

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
Zeitschrift:
Quality and Reliability Engineering International

ISSN: 1099-1638,  0748-8017

Datum der Publikation: 2022

Ausgabe: 38

Nummer: 2

Seiten: 780-799

Art: Artikel

DOI: 10.1002/QRE.3014 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus