A methodology to analyze the fault tolerance of demosaicking methods against memory single event functional interrupts (Sefis)

  1. Aranda, L.A.
  2. Sánchez-Macián, A.
  3. Maestro, J.A.
Revista:
Electronics (Switzerland)

ISSN: 2079-9292

Año de publicación: 2020

Volumen: 9

Número: 10

Páginas: 1-12

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/ELECTRONICS9101619 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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