Characterizing a RISC-V SRAM-based FPGA implementation against Single Event Upsets using fault injection

  1. Ramos, A.
  2. Maestro, J.A.
  3. Reviriego, P.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Any de publicació: 2017

Volum: 78

Pàgines: 205-211

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2017.09.007 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus