Characterizing a RISC-V SRAM-based FPGA implementation against Single Event Upsets using fault injection

  1. Ramos, A.
  2. Maestro, J.A.
  3. Reviriego, P.
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Datum der Publikation: 2017

Ausgabe: 78

Seiten: 205-211

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2017.09.007 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus