Diverse double modular redundancy: A new direction for soft-error detection and correction

  1. Reviriego, P.
  2. Maestro, J.A.
  3. Bleakley, C.J.
Revista:
IEEE Design and Test

ISSN: 2168-2356

Año de publicación: 2013

Volumen: 30

Número: 2

Páginas: 87-95

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/MDT.2012.2232964 GOOGLE SCHOLAR
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