Efficient error detection in Double Error Correction BCH codes for memory applications

  1. Reviriego, P.
  2. Argyrides, C.
  3. A. Maestro, J.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Any de publicació: 2012

Volum: 52

Número: 7

Pàgines: 1528-1530

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2012.01.017 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus