Efficient error detection in Double Error Correction BCH codes for memory applications

  1. Reviriego, P.
  2. Argyrides, C.
  3. A. Maestro, J.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Ano de publicación: 2012

Volume: 52

Número: 7

Páxinas: 1528-1530

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2012.01.017 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus