Efficient error detection in Double Error Correction BCH codes for memory applications

  1. Reviriego, P.
  2. Argyrides, C.
  3. A. Maestro, J.
Aldizkaria:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Argitalpen urtea: 2012

Alea: 52

Zenbakia: 7

Orrialdeak: 1528-1530

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2012.01.017 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus