Efficient error detection in Double Error Correction BCH codes for memory applications

  1. Reviriego, P.
  2. Argyrides, C.
  3. A. Maestro, J.
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Datum der Publikation: 2012

Ausgabe: 52

Nummer: 7

Seiten: 1528-1530

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2012.01.017 GOOGLE SCHOLAR
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