A fast and efficient technique to apply Selective TMR through optimization

  1. Ruano, O.
  2. Maestro, J.A.
  3. Reviriego, P.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Any de publicació: 2011

Volum: 51

Número: 12

Pàgines: 2388-2401

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2011.07.020 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus