A fast and efficient technique to apply Selective TMR through optimization

  1. Ruano, O.
  2. Maestro, J.A.
  3. Reviriego, P.
Aldizkaria:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Argitalpen urtea: 2011

Alea: 51

Zenbakia: 12

Orrialdeak: 2388-2401

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2011.07.020 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus