A fast and efficient technique to apply Selective TMR through optimization

  1. Ruano, O.
  2. Maestro, J.A.
  3. Reviriego, P.
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Datum der Publikation: 2011

Ausgabe: 51

Nummer: 12

Seiten: 2388-2401

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2011.07.020 GOOGLE SCHOLAR
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