Improving memory reliability against soft errors using block parity

  1. Reviriego, P.
  2. Argyrides, C.
  3. Maestro, J.A.
  4. Pradhan, D.K.
Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Año de publicación: 2011

Volumen: 58

Número: 3 PART 2

Páginas: 981-986

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/TNS.2011.2109965 GOOGLE SCHOLAR
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