A method to eliminate the event accumulation problem from a memory affected by multiple bit upsets

  1. Antonio Maestro, J.
  2. Reviriego, P.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2009

Volumen: 49

Número: 7

Páginas: 707-715

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2009.05.002 GOOGLE SCHOLAR
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