Reliability analysis of memories suffering multiple bit upsets

  1. Reviriego, P.
  2. Maestro, J.A.
  3. Cervantes, C.
Revista:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1530-4388,  1530-4388

Año de publicación: 2007

Volumen: 7

Número: 4

Páginas: 592-601

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TDMR.2007.910443 GOOGLE SCHOLAR
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