Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications
- Servin, M.
- Quiroga, J.A.
- Padilla, M.
ISBN: 9783527411528
Any de publicació: 2014
Volum: 9783527411528
Pàgines: 1-327
Tipus: Llibre
ISBN: 9783527411528
Any de publicació: 2014
Volum: 9783527411528
Pàgines: 1-327
Tipus: Llibre