Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications
- Servin, M.
- Quiroga, J.A.
- Padilla, M.
ISBN: 9783527411528
Argitalpen urtea: 2014
Alea: 9783527411528
Orrialdeak: 1-327
Mota: Liburua
ISBN: 9783527411528
Argitalpen urtea: 2014
Alea: 9783527411528
Orrialdeak: 1-327
Mota: Liburua