Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications
- Servin, M.
- Quiroga, J.A.
- Padilla, M.
ISBN: 9783527411528
Datum der Publikation: 2014
Ausgabe: 9783527411528
Seiten: 1-327
Art: Buch
ISBN: 9783527411528
Datum der Publikation: 2014
Ausgabe: 9783527411528
Seiten: 1-327
Art: Buch