Single Event Upsets Under Proton, Thermal, and Fast Neutron Irradiation in Emerging Nonvolatile Memories

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Revista:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Año de publicación: 2022

Volumen: 10

Páginas: 114566-114585

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/ACCESS.2022.3217527 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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