Impact of the Data Retention Threshold Voltage on the Cell-to-Cell SEU Sensitivity of COTS SRAMs

  1. Rezaei, M.
  2. Panduro, A.A.
  3. Franco, F.J.
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  5. Mecha, H.
  6. Letiche, M.
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  8. Clemente, J.A.
Actas:
RADECS 2021 - European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems

ISBN: 9781665437943

Año de publicación: 2021

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/RADECS53308.2021.9954475 GOOGLE SCHOLAR
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