A microspectroscopic study of cap damage in annealed RE-doped AlN-capped

  1. Nogales, E.
  2. Lorenz, K.
  3. Wang, K.
  4. Roqan, I. S.
  5. Martin, R. W.
  6. O'Donnell, K. P.
  7. Alves, E.
  8. Ruffenach, S.
  9. Briot, O.
Colección de libros:
GAN, AIN, INN AND RELATED MATERIALS
  1. Kuball, M (coord.)
  2. Myers, TH (coord.)
  3. Redwing, JM (coord.)
  4. Mukai, T (coord.)

ISSN: 0272-9172

ISBN: 1-55899-846-2

Año de publicación: 2006

Volumen: 892

Páginas: 625-626

Congreso: Symposium on GaN, AIN, InN Related Materials held at the 2005 MRS Fall Meeting

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS