Study of charged defects in CdTe and CdHgTe by scanning electron and tunneling microscopy techniques
- Panin, GN
- Diaz-Guerra, C
- Piqueras, J
ISSN: 1026-3489
Any de publicació: 1998
Volum: 62
Número: 3
Pàgines: 461-466
Tipus: Article
Revista:
IZVESTIYA AKADEMII NAUK SERIYA FIZICHESKAYA