Study of charged defects in CdTe and CdHgTe by scanning electron and tunneling microscopy techniques
- Panin, GN
- Diaz-Guerra, C
- Piqueras, J
ISSN: 1026-3489
Argitalpen urtea: 1998
Alea: 62
Zenbakia: 3
Orrialdeak: 461-466
Mota: Artikulua
ISSN: 1026-3489
Argitalpen urtea: 1998
Alea: 62
Zenbakia: 3
Orrialdeak: 461-466
Mota: Artikulua