Study of charged defects in CdTe and CdHgTe by scanning electron and tunneling microscopy techniques

  1. Panin, GN
  2. Diaz-Guerra, C
  3. Piqueras, J
Aldizkaria:
IZVESTIYA AKADEMII NAUK SERIYA FIZICHESKAYA

ISSN: 1026-3489

Argitalpen urtea: 1998

Alea: 62

Zenbakia: 3

Orrialdeak: 461-466

Mota: Artikulua

GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: WoS