Study of charged defects in CdTe and CdHgTe by scanning electron and tunneling microscopy techniques
- Panin, GN
- Diaz-Guerra, C
- Piqueras, J
ISSN: 1026-3489
Datum der Publikation: 1998
Ausgabe: 62
Nummer: 3
Seiten: 461-466
Art: Artikel
ISSN: 1026-3489
Datum der Publikation: 1998
Ausgabe: 62
Nummer: 3
Seiten: 461-466
Art: Artikel