Rectification Ratio and Tunneling Decay Coefficient Depend on the Contact Geometry Revealed by in Situ Imaging of the Formation of EGaIn Junctions

  1. Chen, X.
  2. Hu, H.
  3. Trasobares, J.
  4. Nijhuis, C.A.
Zeitschrift:
ACS Applied Materials and Interfaces

ISSN: 1944-8252,  1944-8244

Datum der Publikation: 2019

Ausgabe: 11

Nummer: 23

Seiten: 21018-21029

Art: Artikel

DOI: 10.1021/ACSAMI.9B02033 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus