A new estimation approach based on phi-divergence measures for one-shot device accelerated life testing
ISSN: 1099-1638, 0748-8017
Any de publicació: 2024
Volum: 40
Número: 4
Pàgines: 2048-2066
Tipus: Article
ISSN: 1099-1638, 0748-8017
Any de publicació: 2024
Volum: 40
Número: 4
Pàgines: 2048-2066
Tipus: Article