A new estimation approach based on phi-divergence measures for one-shot device accelerated life testing
ISSN: 1099-1638, 0748-8017
Ano de publicación: 2024
Volume: 40
Número: 4
Páxinas: 2048-2066
Tipo: Artigo
ISSN: 1099-1638, 0748-8017
Ano de publicación: 2024
Volume: 40
Número: 4
Páxinas: 2048-2066
Tipo: Artigo