Departament: Óptica

Facultat: Óptica y Optometría

Àrea: Òptica

Grup d'investigació: Grupo Complutense de Óptica Aplicada / Applied Optics Complutense Group

Correu: albalvar@ucm.es

Doctor per la Universidad Complutense de Madrid amb la tesi Caracterización elipsométrica de materiales dieléctricos de aplicación en el desarrollo de sensores evanescentes de fibra óptica para el sector aeroespacial 2002. Dirigida per Dr. Héctor Guerrero Padrón, Dr/a. David Cohén.