Departamento: Óptica

Facultad: Óptica y Optometría

Área: Óptica

Grupo de investigación: Grupo Complutense de Óptica Aplicada / Applied Optics Complutense Group

Correo el.: albalvar@ucm.es

Doutor pola Universidad Complutense de Madrid coa tese Caracterización elipsométrica de materiales dieléctricos de aplicación en el desarrollo de sensores evanescentes de fibra óptica para el sector aeroespacial 2002. Dirixida por Dr. Héctor Guerrero Padrón, Dr/a. David Cohén.