Saila: Óptica

Fakultatea: Óptica y Optometría

Eremua: Optika

Ikerketa taldea: Grupo Complutense de Óptica Aplicada / Applied Optics Complutense Group

E-maila: albalvar@ucm.es

Doctor por la Universidad Complutense de Madrid con la tesis Caracterización elipsométrica de materiales dieléctricos de aplicación en el desarrollo de sensores evanescentes de fibra óptica para el sector aeroespacial 2002. Tesiaren zuzendaria Dr. Héctor Guerrero Padrón, Dr/a. David Cohén.