Département: Óptica

Faculté: Óptica y Optometría

Domaine: Optica

Groupe de recherche: Grupo Complutense de Óptica Aplicada / Applied Optics Complutense Group

Email: albalvar@ucm.es

Docteur à l Universidad Complutense de Madrid avec la thèse Caracterización elipsométrica de materiales dieléctricos de aplicación en el desarrollo de sensores evanescentes de fibra óptica para el sector aeroespacial 2002. Dirigée par Dr. Héctor Guerrero Padrón, Dr/a. David Cohén.