Projecte d'investigació
GR/MAT/0497/2004
CONTROL DE CALIDAD EN MICRO-NANO-METROLOGÍA: APLICACIÓN A LA CARACTERIZACIÓN OPTOELEC-TRÓNICA DE DETECTORES DE LUZ.
date_range
Duració del 01 de de gener de 2005 al 31 de de desembre de 2005
(12 mesos)
Investigadors/es
JAVIER
ALDA SERRANO
Responsable