Proyecto de I+D
Projecte GR/MAT/0497/2004
CONTROL DE CALIDAD EN MICRO-NANO-METROLOGÍA: APLICACIÓN A LA CARACTERIZACIÓN OPTOELEC-TRÓNICA DE DETECTORES DE LUZ.
Finançador :
Comunidad de Madrid
date_range
Duració del 01 de de gener de 2005 al 31 de de desembre de 2005
(12 mesos)
Va finalitzar
euro
31.740,00 EUR
D'àmbit Local.
Convocatòria:
(Comunidad de Madrid)
Subprograma:
Migración de Proyectos GUAI (desde 2000)