Proyecto de I+D
Proyecto GR/MAT/0497/2004
CONTROL DE CALIDAD EN MICRO-NANO-METROLOGÍA: APLICACIÓN A LA CARACTERIZACIÓN OPTOELEC-TRÓNICA DE DETECTORES DE LUZ.
Financiador:
Comunidad de Madrid
date_range
Duración del 01 de enero de 2005 al 31 de diciembre de 2005
(12 meses)
Finalizó
euro
31.740,00 EUR
De ámbito Local.
Convocatoria:
(Comunidad de Madrid)
Subprograma:
Migración de Proyectos GUAI (desde 2000)