Projet de recherche
GR/MAT/0497/2004
CONTROL DE CALIDAD EN MICRO-NANO-METROLOGÍA: APLICACIÓN A LA CARACTERIZACIÓN OPTOELEC-TRÓNICA DE DETECTORES DE LUZ.
date_range
Durée de 01 janvier 2005 à 31 décembre 2005
(12 mois)
Chercheurs
JAVIER
ALDA SERRANO
Responsable