Proyecto de I+D
Projet GR/MAT/0497/2004
CONTROL DE CALIDAD EN MICRO-NANO-METROLOGÍA: APLICACIÓN A LA CARACTERIZACIÓN OPTOELEC-TRÓNICA DE DETECTORES DE LUZ.
Financeur:
Comunidad de Madrid
date_range
Durée de 01 janvier 2005 à 31 décembre 2005
(12 mois)
Fini
euro
31 740,00 EUR
Sphère Local.
Annonce:
(Comunidad de Madrid)
Sous-programme:
Migración de Proyectos GUAI (desde 2000)
