Proyecto de I+D
Project GR/MAT/0497/2004
CONTROL DE CALIDAD EN MICRO-NANO-METROLOGÍA: APLICACIÓN A LA CARACTERIZACIÓN OPTOELEC-TRÓNICA DE DETECTORES DE LUZ.
Funder:
Comunidad de Madrid
date_range
Duration: from 01 January 2005 to 31 December 2005
(12 months)
Finished
euro
31,740.00 EUR
Of Local scope.
Call:
(Comunidad de Madrid)
Subprogram:
Migración de Proyectos GUAI (desde 2000)