Ikerketa proiektua
GR/MAT/0497/2004
CONTROL DE CALIDAD EN MICRO-NANO-METROLOGÍA: APLICACIÓN A LA CARACTERIZACIÓN OPTOELEC-TRÓNICA DE DETECTORES DE LUZ.
date_range
Iraupena 2005(e)ko urtarrila-(a)k 01-(e)tik 2005(e)ko abendua-(a)k 31-(e)ra izan da
(12 months)
Ikertzaileak
JAVIER
ALDA SERRANO
Arduraduna