Influence of the calibration kit on the estimation of parasitic effects in HEMT devices at microwave frequencies

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Revista:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 0018-9456

Año de publicación: 2002

Volumen: 51

Número: 4

Páginas: 650-655

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TIM.2002.803077 GOOGLE SCHOLAR
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