Atomic scale mapping of phase segregation at CMR grain boundaries in the scanning transmission electron microscope

  1. Varela, M.
  2. Peña, V.
  3. Sefrioui, Z.
  4. Lupini, A.R.
  5. Santamaria, J.
  6. Pennycook, S.J.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Año de publicación: 2004

Volumen: 10

Número: SUPPL. 2

Páginas: 330-331

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1017/S1431927604884381 GOOGLE SCHOLAR
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